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《电子产品可靠性与环境试验》于1980年创办，全刊信息多却有条有理，坚持打造交流思想和经验共享的主流平台，国内刊号为：44-1412/TN，创刊多年来受到许多读者的支持和喜爱。
《电子产品可靠性与环境试验》以发表论文（90%以上）为主，每期推出1～2个主题专栏，为国内外专家学者提供学术论坛，也为广大科技工作者提供探讨技术、交流经验的平台，注重点和面效应；尊重作者，创新地提出每篇文章都是篇首页的出版理念，用信息与动态来填补空白，既增加了信息量，又美化了版面。集学术性、技术性、实用性、可读性于一体，被多种著名的检索刊物和数据库收录。
1、文稿应资料可靠、数据准确、具有创造性、科学性、实用性。应立论新颖、论据充分、数据可靠，文责自负（严禁抄袭），文字要精炼。
2、姓名在文题下按序排列，排列应在投稿时确定。作者姓名、单位、详细地址及邮政编码务必写清楚，多作者稿署名时须征得其他作者同意，排好先后次序，接录稿通知后不再改动。
3、中文摘要300字左右，每篇文稿可选3～5个关键词，中英文关键词须对应，不得使用缩写词。
4、文章中的图表应具有典型性，尽量少而精，表格使用三线表；图要使用黑线图，绘出的线条要光滑、流畅、粗细均匀；计量单位请以近期国务院颁布的《中华人民共和国法定计量单位》为准，不得采用非法定计量单位。
5、为缩短刊出周期和减少错误，来稿一律使用word格式，并请详细注明本人详细联系方式。
6、编辑部对来稿有删修权，不同意删修的稿件请在来稿中声明。我刊同时被国内多家学术期刊数据库收录，不同意收录的稿件，请在来稿中声明。
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| 学者姓名 | 发文量 | 主要研究主题 |
| 恩云飞 | 22 | 心可靠性；集成电路；电迁移；单粒子效应；焊点 |
| 丁定浩 | 19 | 心战备完好率；RMS；战备完好性；设计软件；可靠性 |
| 黄云 | 18 | 心可靠性；集成电路；寿命评价；裸芯片；电子元器件 |
| 陈昭宪 | 18 | 心可靠性；电子元器件；AMSAA模型；电子设备；军用 |
| 蔡少英 | 17 | 心可靠性；塑封微电路；电子元器件；集成电路；VLSI |
| 费庆宇 | 16 | 心集成电路；MESFET；砷化镓；VLSI；可靠性 |
| 孔学东 | 15 | 心可靠性；集成电路；裸芯片；SIGE_HBT；超大规模集成电路 |
| 罗宏伟 | 15 | 心可靠性；集成电路；总剂量效应；X射线；ESD |
| 张增照 | 15 | 心可靠性；微波单片集成电路；生态设计；失效率；砷化镓微波单片集成电路 |
| 莫郁薇 | 14 | 心可靠性；集成电路；失效率；电子产品；微波单片集成电路 |
| 机构名称 | 发文量 | 主要研究主题 |
| 信息产业部电子第五研究所 | 888 | 可靠性；电路；集成电路；元器件；校准 |
| 电子部 | 128 | 可靠性；元器件；电子元；电子元器件；电路 |
| 工业和信息化部电子第五研究所 | 85 | IEC标准；电子类；校准；可靠性；电气 |
| 国防科学技术大学 | 55 | 可靠性；可靠性评估；贝叶斯；可靠性分析；贝叶斯方法 |
| 中国赛宝实验室 | 54 | 可靠性；电子元；电子元器件；元器件；电路 |
| 华南理工大学 | 44 | 晶体管；可靠性；砷化镓；界面态；半导体 |
| 《电子产品可靠性与环境试验》编辑部 | 39 | 投稿须知；办刊宗旨；产品质量；数据规范；投稿 |
| 中国空间技术研究院 | 35 | 可靠性；航天；宇航；元器件；破坏性物理分析 |
| 北京航空航天大学 | 35 | 可靠性；仿真；电路；可靠性评估；加速寿命试验 |
| 中国电子科技集团公司 | 30 | 战备完好率；仿真；RMS；预警机；战备完好性 |
| 主题名称 | 发文量 | 相关发文学者 |
| 可靠性 | 954 | 陈昭宪；孔学东；恩云飞；蔡少英；莫郁薇 |
| 电路 | 276 | 罗宏伟；孔学东；贾新章；恩云飞；焦慧芳 |
| 电子产品 | 191 | 彭求实；朱文立；廖小雄；孙立军；解江 |
| 集成电路 | 167 | 孔学东；莫郁薇；罗宏伟；恩云飞；贾新章 |
| 元器件 | 137 | 陈昭宪；彭苏娥；聂国健；蔡少英；林长苓 |
| 电子元 | 121 | 陈昭宪；彭苏娥；蔡少英；张延伟；宋芳芳 |
| 半导体 | 113 | 费庆宇；彭苏娥；徐爱斌；黄云；罗宏伟 |
| 电子元器件 | 103 | 陈昭宪；彭苏娥；蔡少英；宋芳芳；张增照 |
| 网络 | 102 | 丁定浩；杨宗长；郭爱民；吴薇；曲晓文 |
| 芯片 | 102 | 林晓玲；何小琦；孔学东；黄云；恩云飞 |
| 资助项目 | 涉及文献 |
| 国家自然科学基金 | 39 |
| 国家科技支撑计划 | 12 |
| 国家重点实验室开放基金 | 12 |
| 国家高技术研究发展计划 | 6 |
| 电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室基金 | 5 |
| 广东省科技计划工业攻关项目 | 4 |
| 贵州省科学技术基金 | 3 |
| 广东省重大科技专项 | 3 |
| 广西壮族自治区自然科学基金 | 2 |
| 军内科研计划重点项目 | 2 |
| 资助课题 | 涉及文献 |
| 国家科技支撑计划(2012BAH27F02) | 6 |
| 国家自然科学基金(70571083) | 4 |
| 国家自然科学基金(60472009) | 3 |
| 国家自然科学基金(U1201254) | 3 |
| 国家自然科学基金(61141004) | 3 |
| 军内科研计划重点项目(TZ-JDJ-Y-A-2011-002) | 2 |
| 国家教育部博士点基金(70571083) | 2 |
| 广东省科技计划工业攻关项目(2011A081304005) | 2 |
| 国家自然科学基金(70971133) | 2 |
| 国家科技支撑计划(2011BAH24B05) | 2 |
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电子产品可靠性与环境试验杂志杂志是一本具有 双刊号 的期刊，电子产品可靠性与环境试验杂志杂志的国内刊号是：44-1412/TN，国际刊号是：1672-5468
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